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金屬對RFID系統(tǒng)影響研究

文章出處:http://srpd123.com 作者:鄔明罡 李書芳&nbsp;&nbsp; 人氣: 發(fā)表時間:2011年10月14日

[文章內(nèi)容簡介]:超高頻RFID系統(tǒng)受環(huán)境,尤其是金屬的影響很大。通過理論分析,結(jié)合實驗測試和仿真研究了金屬對RFID系統(tǒng)的影響。金屬對讀寫器的場合有反射和屏蔽的作用,反射會引起讀寫空洞,屏蔽會使讀取率降低,但并不是完全無法讀取。標(biāo)簽放置在金屬附近會很難接收到讀寫器的能量,同時標(biāo)簽天線的阻抗和增益都會改變,引起失諧。

    射頻識別(RFID)技術(shù)是一種無接觸自動識別技術(shù),它利用電磁波實現(xiàn)物品的自動識別。現(xiàn)階段,RFID 技術(shù)已經(jīng)在很多領(lǐng)域發(fā)揮了重要的作用。

    目前,射頻識別以高頻和超高頻的應(yīng)用最為廣泛。然而,超高頻波段的射頻對環(huán)境比較敏感 ,尤其是金屬,導(dǎo)致目前這種工作頻率的被動標(biāo)簽無法在具有金屬表面的物體上工作,而射頻識別應(yīng)用最為廣泛的物流行業(yè)多為金屬環(huán)境,所以金屬敏感性這一缺點大大限制了其在物流行業(yè)的應(yīng)用。本文從讀寫器和標(biāo)簽兩個方面用理論分析了金屬對RFID系統(tǒng)的影響,并結(jié)合了測試和仿真進行驗證。

    1 金屬對讀寫器的影響

    當(dāng)RFID系統(tǒng)應(yīng)用在金屬環(huán)境中時,金屬對讀寫器的影響主要體現(xiàn)在兩個方面:反射性和屏蔽性 。 

    電磁波在入射到金屬上時,會有很大部分被反射,反射波和入射波的相位相反。當(dāng)由于金屬對電磁波的反射作用所產(chǎn)生的電場在某一位置剛好和原來的電場位相相同時,那么在這個位置電場對標(biāo)簽的感應(yīng)強度會增強,可以提高標(biāo)簽讀取率;當(dāng)反射電場的相位和原來的電場相位相反時,會抵消,從而降低標(biāo)簽的讀取率。如圖1所示。
 

反射波與入射波的關(guān)系

圖1 反射波與入射波的關(guān)系

    為了對這種影響進行測試,設(shè)計實驗如圖2,在讀寫器天線的正前方放一個金屬板,金屬板和讀寫器距離固定為2.5 m,讀寫器工作于UHF頻段,符合ISO18000--6標(biāo)準(zhǔn)。 

金屬反射測試場景
圖2 金屬反射測試場景


    改變標(biāo)簽和讀寫器間的距離測試標(biāo)簽讀取率結(jié)果如圖3??梢钥闯鲈诰嚯x較遠(yuǎn)的情況下出現(xiàn)了明顯的讀取空洞。讀寫器發(fā)出的電磁波經(jīng)過2.5 m的衰減后反射,反射波與人射波疊加。但因為衰減,所以反射到讀寫器的電磁波不足以和讀寫器剛發(fā)出的電磁波相抵消,因此讀寫空洞只出現(xiàn)在了距離讀寫器較遠(yuǎn)的地方。如果標(biāo)簽正好放置在讀取空洞的地方,則無法讀取。
 

金屬反射的測試結(jié)果
圖3 金屬反射的測試結(jié)果

    金屬對電磁場還有屏蔽作用。由于電場會造成金屬內(nèi)部自由電荷的移動,從而損失能量。電磁波能到達(dá)金屬內(nèi)部的深度用趨膚深度表示: 

    假設(shè)金屬為鐵(K =1.06×106S/m,μ=300),在868 MHz頻率下,趨膚深度為2.2 μm,所以在一般情況下,電磁波是無法直接穿過金屬傳播的,會在金屬的后面留下一個無法讀取的區(qū)域。當(dāng)金屬尺寸不是很大時,這個區(qū)域會因為電磁波的衍射而變小。為了測試金屬屏蔽的影響,將圖2的金屬板放置到讀寫器和標(biāo)簽之間,分別研究200 mm×200mm和400 mm×400 mm兩個金屬板,金屬板距離標(biāo)簽保持1 m。讀取率測試結(jié)果如圖4。可以看出,小金屬板的遮擋范圍比大金屬板小很多,同時最遠(yuǎn)的讀寫距離也遠(yuǎn)一些。盡管在導(dǎo)體后面的標(biāo)簽還是有可能讀取到,但在實際應(yīng)用中應(yīng)當(dāng)盡量避免標(biāo)簽和讀寫器中間出現(xiàn)金屬導(dǎo)體。 

金屬屏蔽的測試結(jié)果
圖4 金屬屏蔽的測試結(jié)果


    2 金屬對標(biāo)簽的影響

    調(diào)整圖2的設(shè)置,改變標(biāo)簽和金屬板之間的距離,測試標(biāo)簽的讀寫距離和讀取率,測試結(jié)果如圖5。標(biāo)簽距離金屬很近時完全無法讀取,隨著距離的增加,讀取率和讀寫距離都增加。下面討論造成這種現(xiàn)象的原因。 

讀取率和讀寫距離測試結(jié)果
圖5 讀取率和讀寫距離測試結(jié)果

    當(dāng)金屬靠近讀寫器天線時,由于電磁感應(yīng)作用,會吸收射頻能量轉(zhuǎn)換成自身的電場能,因此減弱了原有射頻場強的總能量,同時也會產(chǎn)生感應(yīng)磁場,磁力線垂直于金屬表面,使得射頻場強的分布在金屬表面發(fā)生變形,磁力曲線趨于平緩。因此,當(dāng)標(biāo)簽貼附在金屬表面或非常接近金屬表面時,該空間內(nèi)實際并無射頻場強分布,標(biāo)簽天線無法切割磁力線而獲得電磁場能量,標(biāo)簽無法正常工作。除了對場的影響,金屬還會使天線失諧。研究一種常用的彎折偶極子天線 ,尺寸30 mm×51mm,可以放入標(biāo)準(zhǔn)的識別卡封裝中。使用有限元法仿真,在915 MHz,輸入阻抗29.1+208.9j,符合一般標(biāo)簽芯片阻抗特征,增益為1.36 dBi,天線結(jié)構(gòu)如圖6 

天線結(jié)構(gòu)
圖6 天線結(jié)構(gòu)

    在天線旁邊平行放置一個200 mm×200 mm的金屬板。與金屬板相距1 mm和150 mm的方向圖仿真結(jié)果如圖7,相距1 mm時,增益為5.38 dBi,增益很高,但幾乎沒有輻射場,距離150 mm時,增益2.45 dBi,輻射場較強??梢钥闯觯瑯?biāo)簽天線和金屬距離很近時,天線的方向性會增強。 

不同距離的方向圖對比
圖7 不同距離的方向圖對比

    改變和金屬的距離引起的輸入阻抗變化仿真結(jié)果如圖8。距離金屬越近,天線的輸入阻抗實部越小,在小于1 mm的情況下幾乎為0;而虛部在距離大于40 mm時,隨距離增加而減小,在小于40mm的時,虛部隨距離減小而減小,而且變化速度很快,當(dāng)距離小于10 mm時,天線阻抗從感性變成了容性??梢钥闯觯诮嚯x條件下,彎折偶極子天線完全無法工作,在大于50 mm后會有所好轉(zhuǎn)。

    所以天線附近的金屬會改變彎折偶極子天線的輸入阻抗,讓標(biāo)簽失諧,同時也會增大天線增益,假如天線的增益增加效應(yīng)大于天線失諧的影響,那么天線的讀寫距離就會增加,相反會減小。

    3 結(jié)論 

金屬距離改變的輸入阻抗變化
圖8 金屬距離改變的輸入阻抗變化

    本文通過理論分析和實驗測試再結(jié)合仿真研究了金屬對RFID系統(tǒng)的影響。金屬對讀寫器的場會有反射和屏蔽的作用,反射會引起讀寫空洞,屏蔽會使讀取率降低,但并不是完全無法讀取。標(biāo)簽放置在金屬附近會很難接收到讀寫器的能量同時標(biāo)簽天線的阻抗和增益都會改變,引起失諧。本文的研究結(jié)果可以為在金屬環(huán)境中使用RFID系統(tǒng)提供參考。

    (北京郵電大學(xué)電信工程學(xué)院 鄔明罡 李書芳)

本文關(guān)鍵詞:讀寫器,金屬,rfid,標(biāo)簽
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